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X熒光光譜儀是熒光光譜儀的一種，使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。Think600是集天瑞儀器多年鍍層測厚檢測技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及含量測定的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測試工作更加輕松完成。

X射線熒光光譜鍍層分析儀（X-Ray）適用于測定電鍍及電子線路板等行業(yè)需要分析的金屬覆蓋層厚度。 包括：金（Au），銀（Ag），錫（Sn），銅（Cu），鎳（Ni），鉻（Cr）等金屬元素厚度。可同時(shí)測量三層覆蓋層體系，或同時(shí)測量三層組分的厚度和成分，是一款性價(jià)比*的產(chǎn)品，得到了廣泛應(yīng)用和認(rèn)可。