產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
X熒光光譜儀
product
產(chǎn)品分類XRF熒光光譜儀EDX4500H是一種較新型的可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下,被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線(即X熒光)。波長(zhǎng)和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個(gè)物理量。
國(guó)產(chǎn)X熒光光譜分析儀EDX4500H是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析,在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短,大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。
X熒光光譜儀EDX3600K的亮點(diǎn)在于它大鈹窗超薄口的高分辨SDD探測(cè)器和自旋式的樣品腔,產(chǎn)品通過了江蘇省計(jì)量科學(xué)研究院的檢測(cè),并通過中國(guó)儀器儀表學(xué)會(huì)分析儀器分會(huì)組織的科技成果鑒定。
EDX3200S-PLUS(食品重金屬光譜快速分析儀)屬于江蘇天瑞儀器股份有限公司自主研發(fā)的產(chǎn)品,設(shè)備采用了能量色散X射線熒光光譜(EDXRF)技術(shù)實(shí)現(xiàn)食品中微量重金屬有害元素的快速檢測(cè),設(shè)備采用了良好的探測(cè)器和激發(fā)源等硬件配置。
大氣顆粒物重金屬光譜檢測(cè)儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對(duì)大氣顆粒物富集物重元素進(jìn)行分析,在大氣濾膜富集物含量分析中具有無損、快速、準(zhǔn)確等特點(diǎn),有效提高檢測(cè)時(shí)間和工作效率。